Métodos planimétricos topografía de precisión

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Detalles Bibliográficos
Autor: Ruíz Castillo, Luis
Publicado: Madrid Escuela Especial de Ingenieros Industriales c194
Tipo:TEXTO
Idioma:español
Temas:
Acceso en línea:http://ceiba.agro.uba.ar/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1553
Biblioteca:Facultad de Agronomía
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